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中茂 Chroma 半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案
2015-08-13
中茂 Chroma 半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案VLSI測(cè)試系統(tǒng)能精準(zhǔn)的仿真邏輯IC復(fù)雜的電性訊號(hào)并快速判讀測(cè)試結(jié)果，測(cè)試頭(Test Head)的擴(kuò)充功能更可執(zhí)行多種測(cè)試程序并同時(shí)進(jìn)行大量的并行測(cè)試(massive multisite)，提高單位時(shí)間產(chǎn)出量(throughput)； 另外，中茂 Chroma 半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案客制化的測(cè)試機(jī)臺(tái)可直接符合需求，取代昂貴的通用型測(cè)試機(jī)，確實(shí)達(dá)到降低測(cè)試成本的目標(biāo)。 在IC后段制程中，分類(lèi)機(jī)可配合多種不同封裝類(lèi)型的IC進(jìn)行良劣分類(lèi)，后端封裝測(cè)試之后，中茂 Chroma 半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)可迅速檢測(cè)封裝成品，以實(shí)際使用環(huán)境檢測(cè)成品取代虛擬的測(cè)試環(huán)境，提供低成本之高涵蓋率測(cè)試，大幅提高出貨質(zhì)量。長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司是中茂 Chroma 在華中地區(qū)授權(quán)代理商，可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門(mén)演示溝通，以下是長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司為您介紹中茂 Chroma 半導(dǎo)體/IC測(cè)試解決方案系列產(chǎn)品的詳細(xì)介紹,如果您有任何問(wèn)題或者需要相關(guān)資料，請(qǐng)隨時(shí)聯(lián)系：0731-84284278轉(zhuǎn)801，郵箱：shawn.xiao@hncsw.net。
VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
- Model 3380 VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
- Cost Effective For Production
- 100Mhz clock rate, 1024 I/O channels (Max to 1280 pins)
- Up to 1024 sites Parallel testing
- Various VI source
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
- Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3380-P VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
- Cost-effective VLSI Test System
- 100Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 576 pins)
- Up to 512 sites Parallel testing
- Various VI source
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O,ADDA,VI source
- Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3380-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
- Best Lab-tool engineering & production Tester
- 100Mhz clock rate, 256 I/O channels
- Up to 256 sites Parallel testing
- Various VI source
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI source
- Your Dream Platform for Various Types of Devices
- Model 3360-P VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
- Bridging Design To Production. The Best Lab Tool & Cost-effective VLSI Test System
- 50 Mhz clock rate, 256 I/O channels
- Up to 32 sites Parallel testing
- Support ADDA, Mixed-signal , LCD …etc option card
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, UVI, HVREF …etc option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3360-D VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
- The Best Lab Tool
- 50 Mhz clock rate, 64 I/O channels
- Up to 8 sites Parallel testing
- Support full rang AC Inlet & Small footprint
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option Your Dream Platform for Various Types of Devices.
- Model 3360 VLSI 測(cè)試系統(tǒng)
- Cost-effective VLSI Test System
- 50 Mhz clock rate, 512 I/O channels (Max to 608 pins)
- Up to 64 sites Parallel testing
- Support HI-voltage VI & LCD option card
- Flexible Architectures: Slot interchangeable I/O, ADDA, VI option
- Your Dream Platform for Various Types of Devices.
SoC 測(cè)試系統(tǒng)
- Model 3650-EX SoC/Analog Test System
- Cost effective & high parallel site Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
- Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX
- Model 3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)
- Cost effective & high throughput Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
- Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 640 channels
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
- Model 3650-CX SoC 測(cè)試系統(tǒng)
- Versatile Compact Size IC Tester for Consumer SoC, Mixed-signal and Analog ICs.
- Application coverage: MCU w ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
- Expandable platform with up to 256 channels
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
- Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA
- Model 36010 可程控邏輯腳位模塊
- 100 MHz programmable pin electronic module designed for charactering and testing digital & mixed-signal IC
- 100 MHz maximum test rate
- Scalable architecture to provide up to 64 pins
- Per Pin TMU, TMU, and level/timing setting
- 32M vector memory, with scan support
- Model 36020 直流電源供應(yīng)模塊
- Programmable DUT power supply in a single slot 3U PXI module
- 4 Channels in standard PXI 3U/PXIe-Hybird compatible bus type
- +5/-2V and +10V/-2V force ranges
- 16-bits VF and 18-bits IM resolution
- 6 selectable ranges from 5uA to 250mA, with ganged function support
IC測(cè)試分類(lèi)機(jī) (IC Test Handler)
- Model 3110 雙用單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- 運(yùn)用 Pick & Place 技術(shù), 將待測(cè)晶片由進(jìn)料艙移至測(cè)試區(qū)，再依測(cè)試結(jié)果進(jìn)行分類(lèi)。不但適用于系統(tǒng)功能檢測(cè)，也同時(shí)具備終端電性測(cè)試的能力。
- Model 3110-FT 三溫測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- 3110-FT為CHROMA全新開(kāi)發(fā)，適用于Final test工 程產(chǎn)品特性及測(cè)試開(kāi)發(fā)用途之Pick & Place測(cè)試分類(lèi)機(jī)。
- 可設(shè)定溫度范圍 -40℃~125℃
- 適用于FT測(cè)試
- 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到 45x45 mm
- Model 3111 桌上型單站測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- Chroma 3111迷你桌上型單站的自動(dòng)化測(cè)試分類(lèi)機(jī)適用于系統(tǒng)功能檢測(cè)，也同時(shí)具備終端電性測(cè) 試的能力，系統(tǒng)支援各種不同類(lèi)型的封裝晶片，支援的晶片尺寸從 5x5mm 到 45x45mm。
- Model 3112 晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- 具備單頭與多頭之適合量產(chǎn)的PnP 自動(dòng)化晶片測(cè)試分類(lèi)機(jī)。
- Model 3160/3160-A 終端測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- 適合量產(chǎn)、高產(chǎn)出且多平行測(cè)試站點(diǎn)的高速I(mǎi)C測(cè)試分類(lèi)機(jī)。
- 9Kpcs 產(chǎn)能
- 可設(shè)定的待測(cè)物間距
- 可側(cè)邊安裝tester
- 壓閥式受測(cè)物防護(hù)機(jī)
- Model 3180 邏輯測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- 3180是一款運(yùn)用Pick & Place技術(shù)的量產(chǎn)型機(jī)臺(tái),適合高產(chǎn)出多測(cè)試站點(diǎn)的IC測(cè)試。節(jié)省了廠房空間,測(cè) 試時(shí)間和成本,3180創(chuàng)新的設(shè)計(jì)可提高生產(chǎn)力和生產(chǎn)效率。機(jī)臺(tái)可配置作單站, 雙站, 四站或八站測(cè)試, 亦可升級(jí)作高溫150 ℃測(cè)試.。
- 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn)
- 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm
- 溫度測(cè)試范圍從常溫到高溫150 ℃
- Model 3240 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
- 可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。
- 4-sites
- Model 3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
- 可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。
- 6-sites
- Model 3270 微型 IC 測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- 適合 CMOS 影像感應(yīng)元件(CIS : CMOS Image Sensor) 量產(chǎn)所需。
- Model 3280 SD Card 測(cè)試分類(lèi)機(jī)
- 采用創(chuàng)新的技術(shù)整合SD卡測(cè)試機(jī)與自動(dòng)分類(lèi)機(jī)的功能，并利用Test-In-Tray的技術(shù)來(lái) 達(dá)到大量平行測(cè)試的能力。
- Model 3813 觸碰面板多點(diǎn)半自動(dòng)測(cè)試機(jī)
- 可靠的觸碰面板測(cè)試機(jī),適合數(shù)位式觸碰面板與類(lèi)比式觸碰面板。
外觀檢查系統(tǒng)
- Model 7970 影像傳感器檢測(cè)系統(tǒng)
- Chroma 7970 影像感測(cè)器檢測(cè)系統(tǒng)為一自動(dòng)化載盤(pán)式外觀檢測(cè)系統(tǒng)，可檢測(cè)影像感測(cè)器正反兩面外觀瑕疵。
- 提供完整的影像感測(cè)器玻璃面與錫球面外觀檢測(cè)功能
- 可大幅降低處理時(shí)間之定速連續(xù)取像功能
- 已申請(qǐng)專(zhuān)利的多吸嘴吸取功能可增加整體檢測(cè)速度
- 先進(jìn)的光源系統(tǒng)可適用于不同的瑕疵類(lèi)型
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