艾克賽普 IGBT 使用壽命預測的功率循環(huán)測試
2020-06-12
艾克賽普 IGBT 使用壽命預測的功率循環(huán)測試
出于日益增長的市場和環(huán)保需求，今天的汽車工業(yè)面臨著今后20年加速實現(xiàn)電動化的變革。最初是混合動力汽車 (HEV)（例如占據(jù)市場領先地位的豐田普銳斯）引領著汽車電動化的進程，但在未來 20 年中，純電動汽車 (EV) 將最終成為常態(tài)。
不過，汽車的電力電子設備需要具備2-5 年的使用壽命，相當于成千上萬小時的使用時間和數(shù)百萬次的功率循環(huán)，且必須承受高達200度的高溫。因此，對于電力電子設備而言，運行可靠性至關重要，其故障成本將會十分高昂，難以承受。
隨著工業(yè)電子系統(tǒng)的能源需求不斷增加，汽車電力電子設備和器件供應商面臨著為汽車 OEM 廠商提供高可靠性系統(tǒng)的巨大挑戰(zhàn)。而眾所周知，電力電子設備的高可靠性則與工作溫度直接相關。
本研討會說明了如何利用主動式功率循環(huán)測試IGBT和其他功率半導體，以反映其在目標應用中的溫度變化，以及如何使用瞬態(tài)熱測量捕捉封裝結構的老化過程。另外還將介紹使用測試數(shù)據(jù)估算應用中使用壽命的步驟。
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