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環(huán)境試驗國家標準匯總

2011-04-12

  到目前為止,我國發(fā)布的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備方面的國家標準共計75項,而《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準匯編》就是一共匯集了截至2005年7月底我國正式發(fā)布實施的電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗方面的國家標準共計75項,總共涉及總則、術(shù)語、各種試驗方法、試驗導(dǎo)則及環(huán)境參數(shù)測量方法等。

  目錄 ······

  GB/T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分:總則

  GB/T 2422—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語

  GB/T 2423.1—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫

  GB/T 2423.2—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

  GB/T 2423.3—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

  GB/T 2423.4—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法

  · · · · · · (更多)

  GB/T 2421—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第1部分:總則

  GB/T 2422—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 術(shù)語

  GB/T 2423.1—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫

  GB/T 2423.2—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫

  GB/T 2423.3—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法

  GB/T 2423.4—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db:交變濕熱試驗方法

  GB/T 2423.5—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊

  GB/T 2423.6—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則:碰撞

  GB/T 2423.7—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗EC和導(dǎo)則:傾跌與翻倒(主要用于設(shè)備型樣品)

  GB/T 2423.8—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ed:自由跌落

  GB/T 2423.9—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱

  GB/T 2423.10—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗FC和導(dǎo)則:振動(正弦)

  GB/T 2423.11—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fd:寬頻帶隨機振動——一般要求

  GB/T 2423.12—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fda:寬頻帶隨機振動——高再現(xiàn)性

  GB/T 2423.13—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fdb:寬頻帶隨機振動—中再現(xiàn)性

  GB/T 2423.14—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗FdC:寬頻帶隨機振動——低再現(xiàn)性

  GB/T 2423.15—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ga和導(dǎo)則:穩(wěn)態(tài)加速度

  GB/T 2423.16—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗J和導(dǎo)則:長霉

  GB/T 2423.17—1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka:鹽霧試驗方法

  GB/T 2423.18—2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗試驗Kb:鹽霧,交變(氯化鈉溶液)

  GB/T 2423.19—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗KC:接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法

  GB/T 2423.20—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd:接觸點和連接件的硫化氫試驗方法

  GB/T 2423.21—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗M:低氣壓試驗方法

  GB/T 2423.22—2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗N:溫度變化

  GB/T 2423.23—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封

  GB/T 2423.24—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Sa:模擬地面上的太陽輻射

  GB/T 2423.25—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗

  GB/T 2423.26—1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM:高溫/低氣壓綜合試驗

  GB/T 2423.27—1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法

  GB/T 2423.28—1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T:錫焊試驗方法

  GB/T 2423.29—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗U:引出端及整體安裝件強度

  GB/T 2423.30—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗XA和導(dǎo)則:在清洗劑中浸漬

  GB/T 2423.31—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法

  GB/T 2423.32—1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法

  GB/T 2423.33—2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗KCa:高濃度二氧化硫試驗

  GB/T 2423.34—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗方法

  GB/T 2423.35—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFC:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動(正弦)綜合試驗方法

  GB/T 2423.36—1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFC:散熱和非散熱樣品的高溫/振動(正弦)綜合試驗方法

  GB/T 2423.37—1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗L:砂塵試驗方法

  GB/T 2423.38—1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗R:水試驗方法

  GB/T 2423.39—1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗EC:彈跳試驗方法

  GB/T 2423.40—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱

  GB/T 2423.41—1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風壓試驗方法

  GB/T 2423.42—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動(正弦)綜合試驗方法

  GB/T 2423.43—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊(Ea)、碰撞(Eb)、振動(FC和Fb)和穩(wěn)態(tài)加速度(Ga)等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則

  GB/T 2423.44—1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Eg:撞擊 彈簧錘

  GB/T 2423.45—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Z/ABDM:氣候順序

  GB/T 2423.46—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ef:撞擊 擺錘

  GB/T 2423.47—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fg:聲振

  GB/T 2423.48—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Ff:振動——時間歷程法

  GB/T 2423.49—1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Fe:振動——正弦拍頻法

  GB/T 2423.50—1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗Cy:恒定濕熱主要

  GB/T 6999—1986《環(huán)境試驗用相對濕度查算表》因篇幅原因, 收入在《電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件國家標準匯編》(第二版)中。為便于使用,書后附有這些標準與國際標準的采用關(guān)系以及與舊版標準的代替關(guān)系表。

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