基于TDR的物理層測試系統(tǒng)
名稱：頻譜分析儀
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簡介：基于TDR的物理層測試系統(tǒng) Agilent物理層測試系統(tǒng)（PLTS）為描述單端或差分物理層元件（如：高速底板、電纜、連接器、數據包和電路板上的控制跡線等）提供了最準確的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS軟件可支持時域反射計（TD...
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- 產品介紹
基于TDR的物理層測試系統(tǒng) Agilent物理層測試系統(tǒng)（PLTS）為描述單端或差分物理層元件（如：高速底板、電纜、連接器、數據包和電路板上的控制跡線等）提供了最準確的精度和最完善的工具套件。N1930A PLTS軟件可支持時域反射計（TDR）和4端口的矢量網絡分析儀（VNA）。而且VNA和TDR擁有各種優(yōu)勢并可生成相似的測量結果。但二者相比，TDR系統(tǒng)的價格更經濟也更便于使用，VNA系統(tǒng)卻可產生更準確且可跟蹤的測量結果。
主要特性與技術指標 •強大的分析工具，包括頻域、時域反射計（TDR）、時域傳輸 （TDT）和眼圖等
•對單端、差分、共模和模式轉換設備進行全面表征
•標準化校準和自動通道校正（de-skew）算法可實現快速可靠的差分測量
PLTS與Agilent TDR相結合，可提供多種儀器控制，如引導設置和校準、錯誤糾正、采集、數據傳輸和高級數據分析工具等。由于測量單端和差分結構的程序非常麻煩且費時，所以經常會引發(fā)錯誤，而采用了這種引導過程就會顯著降低錯誤發(fā)生的機率。
多種新型高數據速率串行總線標準都要求對輸入差分插入損耗、回波損耗、阻抗以及近端和遠端串擾等進行測量描述。而PLTS可直接對這些參數以及模式轉換分析（用于分析EMI）進行測量。
基于TDR的物理層測試系統(tǒng)組成：
- 86100A/B/C主機
-1個或2個54754A TDR模塊（進行差分頻域分析時需要2個模塊）
- N1930A物理層測試系統(tǒng)軟件
注：物理層測試系統(tǒng)中的每個元件都是單獨提供的。請參閱產品概述，獲得更多詳細信息。
•強大的分析工具，包括頻域、時域反射計（TDR）、時域傳輸 （TDT）和眼圖等
•對單端、差分、共模和模式轉換設備進行完整的特征描述
•借助RLCG參數提取并創(chuàng)建用于模擬程序（如HSPICE）的精確傳輸線模型
•由于采用的標準化及參考平面校準技術超越了傳統(tǒng)的垂直和時基校準技術，從而可通過從測量結果中去除電纜的電延遲和損耗，確保更準確的測量精度。
•通過自動的通道校正（de-skew）算法，實現快速可靠的差分測量
