0731-84284278
布魯克 BRUKER TENSOR FTIR光譜儀
名稱：光譜儀
品牌：
型號：
簡介：如果您需要對樣品進(jìn)行快速識別、定量分析及鑒定，布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀是您實驗室的最佳選擇。布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀具有優(yōu)良的性能和杰出的擴展性，操作界面簡單、直觀。 簡單易用：用戶自定義界面、簡單...
申請服務(wù)
- 產(chǎn)品介紹
如果您需要對樣品進(jìn)行快速識別、定量分析及鑒定，布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀是您實驗室的最佳選擇。布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀具有優(yōu)良的性能和杰出的擴展性，操作界面簡單、直觀。
簡單易用：用戶自定義界面、簡單的測量模塊及直觀的軟件向?qū)Чδ芏际遣剪斂薕PUSTM軟件的標(biāo)準(zhǔn)配置，所有的操作和分析評價功能均可用于處理批量文件。這些特點使得軟件使用和儀器操作都變得非常容易，所以即便是非專業(yè)的操作人員也可順利地使用布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀。
高度靈活性：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀不僅可以用于日常的質(zhì)量檢測分析，也可擴展為研究型的紅外光譜儀。種類齊全的紅外采樣附件確保您輕松的選擇合適的采樣模式。布魯克 BRUKER TENSOR紅外光譜儀的外接擴展光路，可用于各種高端的應(yīng)用，如紅外顯微鏡分析、熱分析紅外聯(lián)用系統(tǒng)、高通量篩選裝置和光譜成像裝置等。豐富的樣品倉內(nèi)置附件和外置附件可滿足您的各種應(yīng)用。
強大的擴展功能：布魯克 BRUKER TENSOR 37 可以通過光學(xué)組件的簡單切換，將標(biāo)準(zhǔn)的中紅外譜區(qū)擴展到遠(yuǎn)紅外或者近紅外譜區(qū)。傅立葉變換近紅外光譜儀具有獨特的優(yōu)勢：通常情況下，樣品無需稀釋即可進(jìn)行測量，由于玻璃在近紅外波段是透明的，樣品可以直接放置在玻璃瓶中進(jìn)行分析。石英光纖可以使近紅外光遠(yuǎn)距離傳輸，進(jìn)行樣品的遠(yuǎn)程測量和過程的在線控制。
Bruker人工智能網(wǎng)絡(luò)：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀可以自動識別各種光學(xué)器件（如光源、分束器、檢測器或激光器）和采樣附件。與此同時，程序也會自動調(diào)入相關(guān)的實驗參數(shù)為您的樣品測試做好準(zhǔn)備。布魯克 BRUKER TENSOR紅外光譜儀使用PerformanceGuardTM在線監(jiān)測功能，確保不間斷的監(jiān)測所有的光學(xué)器件和采樣附件是否正常運行。
高性能設(shè)計：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀專為當(dāng)前典型的實驗室需求而設(shè)計，布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀集操作簡單、高性能設(shè)計和高性價比等優(yōu)點于一身。布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀提供永久準(zhǔn)直的光路、最佳的靈敏度和最高的光通量，這些特點均歸功于專利設(shè)計的立體角鏡干涉儀RockSolidTM。與傳統(tǒng)的平面鏡干涉儀相比，立體角鏡干涉儀可以從光學(xué)原理上消除準(zhǔn)直誤差，確保光路永久準(zhǔn)直。
性能認(rèn)證：布魯克 BRUKER TENSOR系列光譜儀Q/OQ/PQ等系統(tǒng)認(rèn)證。
專利權(quán)：采用的技術(shù)受以下一項或多項專利權(quán)的保護(hù)：US 7034944; US 5923422; DE 19940981。
優(yōu)異的設(shè)計：布魯克 BRUKER TENSOR II的設(shè)計既適合普通樣品的常規(guī)測試，也適合與各種附件聯(lián)用。儀器整機堅固耐用，密封性良好。
外接附件和樣品倉可選附件：布魯克 BRUKER TENSOR II可以外接一個光路擴展附件，最多可有4個光路輸出口，聯(lián)接多種外置附件。
HYPERION系列紅外顯微鏡、HYPERION 3000紅外成像系統(tǒng) 、HTS-XT高通量篩選附件 、焦平面陣列快速成像附件、TGA模塊、用于VCD和PM-IRRAS偏振調(diào)制的PMA 50附件、氣相紅外聯(lián)用附件、外接樣品倉，可以抽真空或氮氣吹掃、聯(lián)接UHV的真空密封外接腔、積分球附件、液體自動進(jìn)樣器。
先進(jìn)的電子設(shè)計：布魯克公司擁有DigiTect專利技術(shù)的檢測器，基于最新的雙通道模數(shù)轉(zhuǎn)換器，真正的24位動態(tài)范圍，使電子噪聲值達(dá)到最低。TENSOR II標(biāo)配的DTGS檢測器，提供獨特的Power-Mode模式，可以在低光通量的情況下顯著提高信噪比。
擴展性：布魯克 BRUKER TENSOR II可以配置不同的分束器使光譜范圍達(dá)到近紅外或遠(yuǎn)紅外。根據(jù)不同的光譜范圍，用戶自己可以非常容易的更換光源和檢測器，更換之后主機可以自動識別這些光學(xué)元件。
布魯克 BRUKER TENSOR II可廣泛用于常規(guī)QC/QA分析，此外，無論您需要哪種配置，布魯克 BRUKER TENSOR II都能提供最佳的測量性能和最高的靈敏度。種類齊全的內(nèi)置式和外置式測量附件使之可以滿足工業(yè)研發(fā)與學(xué)術(shù)研究的各種高級應(yīng)用。
制藥及生命科學(xué)：蛋白質(zhì)構(gòu)象及濃度定量（配套CONFOCHECK附件）、對水溶液中藥物成分和賦形劑的高靈敏度的定量分析、微生物鑒定、生物組織的化學(xué)成像（配套HYPERION紅外顯微鏡）、同分異構(gòu)手性材料分析（配套VCD附件）、氣/水界面的脂/蛋白單分子膜的研究、與熱分析聯(lián)用對醫(yī)藥產(chǎn)品的揮發(fā)性、穩(wěn)定性進(jìn)行表征。
聚合物和化學(xué)制品：對不均勻的聚合物和多層材料進(jìn)行化學(xué)成像（配套HYPERION紅外顯微鏡）、與熱分析聯(lián)用對揮發(fā)過程和分解過程進(jìn)行檢測和表征、實驗室條件下的反應(yīng)過程的監(jiān)控（配套中紅外光纖）。
表面分析：超薄膜和單分子層薄膜的檢測和表征、腐蝕過程的表征、將化學(xué)成像用于涂層均勻性分析（配套HYPERION紅外顯微鏡）。
建筑材料：與熱分析聯(lián)用進(jìn)行耐熱材料的特性評價。
材料科學(xué)：建筑材料發(fā)射率的檢測、紅外窗片、鏡面等光學(xué)材料的特性評價、采用光聲光譜對黑色材料進(jìn)行研究。
半導(dǎo)體硅業(yè)：質(zhì)量控制中碳/氧雜質(zhì)的測定。
土壤分析：土壤中養(yǎng)分和有機質(zhì)的評估、土壤特性研究。
最新產(chǎn)品
相關(guān)產(chǎn)品
