艾克賽普 Chroma 3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3260可配合多數(shù)不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP封裝。測(cè)試機(jī)采用取放的技術(shù),可從JEDEC夾盤(pán)來(lái)拾取IC,移動(dòng)到測(cè)試位置,然后將測(cè)試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray盤(pán)。
艾克賽普 Chroma 3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)以并排平行方式,進(jìn)行測(cè)試。在高溫下具有自動(dòng)溫度冷卻(ATC)功能,其范圍從攝氏50度到125度可測(cè)試1至6個(gè)測(cè)試座以下是長(zhǎng)沙艾克塞普儀器設(shè)備有限公司為您介紹艾克賽普 Chroma 3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)的產(chǎn)品特性,如有疑問(wèn)或者需要相關(guān)資料,請(qǐng)聯(lián)系長(zhǎng)沙艾克賽普儀器設(shè)備有限公司www.mrcaleather.com,可提供樣機(jī)和相關(guān)工程師上門(mén)演示溝通,聯(lián)系電話:0731-84284278 84284378。
艾克賽普 Chroma 3260 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)產(chǎn)品特性:
可靠的高速Pick&Place分類機(jī)
同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì)
具備處理QFP的能力
簡(jiǎn)易編輯通訊定義(ECD)功能
無(wú)測(cè)試座損壞的問(wèn)題
浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力
IC殘留檢測(cè)功能
發(fā)明專利字號(hào)190373, 190377, 1227324 & 125307
Thermal Control Configurations
Tri Temp Control
Close-Loop Active Thermal Control (ATC) Module
Unity PTC (Passive Thermal Control)
Cooling Pipe