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牛津儀器 OptistatDry BLV低溫恒溫器
名稱：其他儀器與工具
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型號(hào)：
簡介：牛津儀器 OptistatDry BLV低溫恒溫器是一款用于光譜學(xué)研究的低溫恒溫器，由配有光學(xué)通路的緊湊型恒溫器和閉循環(huán)制冷機(jī)組成，采用底部換樣設(shè)計(jì)。無需液體制冷劑即可將樣品降溫至液氦溫度，提高了使用便捷性的同時(shí)降低了運(yùn)行成本。配備具有專利...
- 產(chǎn)品介紹
牛津儀器 OptistatDry BLV低溫恒溫器是一款用于光譜學(xué)研究的低溫恒溫器，由配有光學(xué)通路的緊湊型恒溫器和閉循環(huán)制冷機(jī)組成，采用底部換樣設(shè)計(jì)。無需液體制冷劑即可將樣品降溫至液氦溫度，提高了使用便捷性的同時(shí)降低了運(yùn)行成本。配備具有專利的樣品托、光學(xué)窗口和測量引線選件，可進(jìn)行原位的光學(xué)和電學(xué)測量。本產(chǎn)品的技術(shù)特點(diǎn)包括：
- < 3 K至300 K的連續(xù)可控溫度范圍
- 降溫至10 K所需時(shí)間少于120 mins
- 無需液體制冷劑
- 可廣泛地應(yīng)用于多種實(shí)驗(yàn)和不同的光譜技術(shù)
- 大孔徑光學(xué)窗口，數(shù)值孔徑優(yōu)于f1
- 配備10路電學(xué)測量引線
- 配備MercuryiTC 溫度控制器
- 1年標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)保期
牛津儀器 OptistatDry BLV低溫恒溫器特點(diǎn)
更多樣的通用性：可廣泛地應(yīng)用于多種實(shí)驗(yàn)和不同的光譜技術(shù)；恒溫器支架同時(shí)兼容英制（1 inch間距）和公制（25 mm間距）光學(xué)平臺(tái)。
更靈活的可擴(kuò)展性：多種多樣的樣品托、光學(xué)窗口和引線選件，可根據(jù)用戶實(shí)驗(yàn)需求定制和升級(jí)系統(tǒng)。
更快速的實(shí)驗(yàn)：通過獨(dú)特的樣品接入端口實(shí)現(xiàn)快速和簡單地更換樣品，更換樣品時(shí)無需移動(dòng)低溫恒溫器或者重新校準(zhǔn)光路。
無液氦制冷：無需液體制冷劑。
安裝簡單：只需單項(xiàng)電源供電，系統(tǒng)易安裝于標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室環(huán)境?？蛇x擇風(fēng)冷壓縮機(jī)或水冷壓縮機(jī)。
軟件控制：牛津儀器的電子產(chǎn)品可通過軟件進(jìn)行控制，通訊接口包括RS232、USB（串行仿真）、TCP/IP和GPIB。提供LabVIEW函數(shù)庫和虛擬控制器來現(xiàn)實(shí)基于PC端的電子設(shè)備監(jiān)控，這些都能集成到完整的LabVIEW數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中。
牛津儀器 OptistatDry BLV低溫恒溫器技術(shù)參數(shù)
溫度范圍：< 3 K至300 K（連續(xù)可控）
溫度穩(wěn)定性：±0.1 K
低振動(dòng)：與光學(xué)平臺(tái)結(jié)合時(shí)，樣品位置振動(dòng)小于10 µm
室溫至最低溫降溫時(shí)間：<3 hrs
典型制冷功率：～0.2 W@4.2 K
光學(xué)通路：通光孔徑28 mm，數(shù)值孔徑f1
尺寸（高度 ´ 寬度 ´ 深度）：635-900（可調(diào)節(jié)）´ 240 ´ 290 mm
恒溫器(主機(jī))總重量：23 kg
注意事項(xiàng)：
- 標(biāo)準(zhǔn)的低溫恒溫器配備4個(gè)徑向光學(xué)窗口和一個(gè)使用盲板密封的軸向窗口。
- 光學(xué)窗口在關(guān)閉狀態(tài)下可降溫至3 K。徑向窗口盲板將作為系統(tǒng)配件提供。
- 運(yùn)行溫度在系統(tǒng)配備的MercuryiTC中進(jìn)行相應(yīng)設(shè)置。
牛津儀器 OptistatDry BLV低溫恒溫器應(yīng)用領(lǐng)域
- 紫外/可見光光譜：低溫下的紫外或可見光光譜實(shí)驗(yàn)可以揭示固體中電子能級(jí)與振模的相互作用
- 遠(yuǎn)紅外光譜：低溫紅外光譜實(shí)驗(yàn)可觀測原子間振模的變化及其他現(xiàn)象，例如超導(dǎo)轉(zhuǎn)變溫度以下的能隙等
- 拉曼光譜：低溫可以使拉曼激發(fā)中的譜線更細(xì)
- 光致發(fā)光：低溫下光譜性質(zhì)將更為清晰，可以獲得更多的信息
- 電學(xué)性質(zhì)：光學(xué)與電學(xué)的測量，包括I-V曲線測量等。實(shí)現(xiàn)電學(xué)和光譜的原位測量。
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