布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學(xué)顯微鏡為實(shí)驗(yàn)室研究和生產(chǎn)工藝控制提供最佳性能的非接觸式表面計(jì)量方案。X3和X8型號(hào)集十代白光干涉技術(shù)設(shè)計(jì)之大成,成為市場上三維光學(xué)輪廓儀在測(cè)量速度、分辨率、重復(fù)性、準(zhǔn)確性等性能上最優(yōu)和大批量生產(chǎn)中效率最佳的選擇。布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學(xué)顯微鏡的獨(dú)特優(yōu)勢(shì)包括以下幾點(diǎn):可快速方便定位的電動(dòng)X、Y、Z平臺(tái)和電動(dòng)測(cè)量頭部傾斜裝置;集成式防震臺(tái)與特殊設(shè)計(jì)的基座提供優(yōu)異的抗震性能;業(yè)界率先推出基于64位的Vision64軟件使用戶更方便地分析各種應(yīng)用數(shù)據(jù),廣泛應(yīng)用于眼科材料,醫(yī)療器械,精密機(jī)械加工零件,太陽能電池,高亮度LED和半導(dǎo)體器件等的各種材料的表面測(cè)量。
此外,布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學(xué)顯微鏡獨(dú)特的雙LED光源設(shè)計(jì)(專利)配合0.5x到230x的放大倍數(shù)保證了優(yōu)異的測(cè)試質(zhì)量。布魯克Bruker ContourGT-X 三維光學(xué)顯微鏡激光自動(dòng)校準(zhǔn)(專利)保證了測(cè)量的準(zhǔn)確性,重復(fù)性以及多臺(tái)機(jī)機(jī)器同時(shí)使用時(shí)的一致性。Vision64的64位軟件架構(gòu)與多核處理器結(jié)合將測(cè)量復(fù)雜表面的測(cè)量分析速度提高了10倍。通過數(shù)千張單幅掃描的數(shù)據(jù)的一次拼接可實(shí)現(xiàn)連續(xù)大面積高分辨的圖片。AcuityXR功能打破了光學(xué)分辨極限,可分辨出小于130nm的特征尺寸。Vision64軟件的圖形化界面進(jìn)一步提升了用戶的易用性,同時(shí)也為獲得的更加廣泛的數(shù)據(jù)提供了更有效地分析功能。
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