日立Hitachi AFM5300E 環(huán)境多功能原子力顯微鏡是一款環(huán)境型原子力顯微鏡,日立Hitachi AFM5300E 環(huán)境多功能原子力顯微鏡的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。日立Hitachi AFM5300E 環(huán)境多功能原子力顯微鏡還具有高低溫控制功能,可以檢測溫度對樣品表面形貌和物理特性的影響。
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1. 環(huán)境控制功能(大氣,真空,液體,溫控等)。日立Hitachi AFM5300E 環(huán)境多功能原子力顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)高真空的測試環(huán)境,最大限度減小樣品表面吸附水對測試的影響,實現(xiàn)精確的物理特性測量。 真空環(huán)境下可以實現(xiàn)更大范圍的溫度控制。另外,新開發(fā)的『溫度掃描功能』可監(jiān)視樣品Z方向的熱脹冷縮,通過控制反饋信號,使懸臂在變溫環(huán)境下連續(xù)測試樣品表面的物理特性。
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特殊氣氛(流量控制)
●溫度控制 加熱?冷卻(-120~300℃) 高溫(室溫~800℃)
●濕度控制(0~80%)
●外加磁場(水平、垂直、面內(nèi)旋轉(zhuǎn)、max 5000 Oe )
2. 簡便操作(綜合型Holder Flange)。通過采用『綜合型Holder Flange開合功能』,樣品和掃描器更換更為方便的同時,免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測試模式切換時的支架更換環(huán)節(jié)。
3. 卓越的高性能。采用了『Swing Cancel功能』,減輕了樣品的浮動,降低了漂移。提高了納米分析性能,提升了可信度。 漂移量:0.015nm/sec以下
4. 通過減輕表面吸附水的影響,提高了電氣性能的檢測精度。真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響,因而實現(xiàn)高分辨高靈敏的電學(xué)性能分析。
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